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            產(chǎn)品展示NEWS CENTER

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            產(chǎn)品展示

            首頁-產(chǎn)品展示-智能裝備解決方案-手機(jī)行業(yè)檢測設(shè)備-MINLMJ-100手機(jī)CSP芯片組件外觀檢測機(jī)

            手機(jī)CSP芯片組件外觀檢測機(jī)

            產(chǎn)品型號(hào):MINLMJ-100

            簡要描述:手機(jī)CSP芯片組件外觀檢測機(jī)利用光學(xué)檢測原理,用程序?qū)CD成像照片進(jìn)行分析,實(shí)現(xiàn)對(duì)芯片組件的表面進(jìn)行檢測的結(jié)果,實(shí)現(xiàn)自動(dòng)檢測,自動(dòng)取放的功能。設(shè)備運(yùn)行穩(wěn)定,可對(duì)芯片組件外觀瑕疵進(jìn)行正確識(shí)別和判斷,代替人工在顯微鏡下進(jìn)行檢測的方案,幫助芯片組件廠商提高品質(zhì)效率,降低運(yùn)行成本

            • 企業(yè)實(shí)力

              Enterprise Strength
            • 有效保修

              Valid Warranty
            • 質(zhì)量保障

              Quality Assurance

            詳細(xì)介紹

              一、產(chǎn)品概述:
              手機(jī)CSP芯片組件外觀檢測機(jī)利用光學(xué)檢測原理,用程序?qū)CD成像照片進(jìn)行分析,實(shí)現(xiàn)對(duì)芯片組件的表面進(jìn)行檢測的結(jié)果,實(shí)現(xiàn)自動(dòng)檢測,自動(dòng)取放的功能。設(shè)備運(yùn)行穩(wěn)定,可對(duì)芯片組件外觀瑕疵進(jìn)行正確識(shí)別和判斷,代替人工在顯微鏡下進(jìn)行檢測的方案,幫助芯片組件廠商提高品質(zhì)效率,降低運(yùn)行成本
             
              二、設(shè)備用途: 
              該設(shè)備主要用于實(shí)現(xiàn)手機(jī)攝像模組CSP組件外觀全自動(dòng)檢查,CSP組件來料采用注塑料盤形式,采用堆疊式上下料形式,通過機(jī)器自動(dòng)檢測,實(shí)現(xiàn)OK/NG快速分揀。
             
              三、設(shè)備參數(shù):
              1.硬件參數(shù):

              2.適用載具:本設(shè)備對(duì)市場上主流的76×76mm;101.6×101.6mm可適用。

              3.可檢機(jī)種:手機(jī)CSP芯片組件外觀檢測機(jī)可檢機(jī)種包括:CSP/COM機(jī)種。

              4.檢測能力:
             ?、倏蓹z項(xiàng)目:
              a.芯片正面,玻璃上下表面白點(diǎn),污點(diǎn),劃傷,臟污,玻璃邊緣崩缺,溢膠,切割偏移分層,影像區(qū)彩虹橫條紋或斜條紋等缺陷;
              b.產(chǎn)品擺盤方向;
              c.產(chǎn)品外形特征,識(shí)別混料。

            核心指標(biāo):

            視野

            15mm×20mm

            漏檢率

            玻璃類:漏檢率<500PPM(0.5‰)

            方向類:漏檢率<100PPM(0.1‰)

            過檢率

            玻璃類:過檢率<5%  

            方向類:過檢率<1%  

            UPH

            ≥15000(CSP 一次良率90%),≥13500(CSP 一次良率85%)(按包裝板產(chǎn)品顆數(shù)需≥100參照評(píng)估)

            可檢機(jī)種

            CSP/COM機(jī)種

            吸嘴支持

            可以適用于4.5×4.5mm以上的組件產(chǎn)品。

            料盤支持

            76mm*76mm和101.6mm*101.6mm料盤

            漏檢率=漏檢數(shù)/投檢數(shù)×100%
            過檢率=過檢數(shù)/投檢數(shù)×100%
            漏檢數(shù)和過檢數(shù)的確認(rèn),結(jié)合工具顯微鏡對(duì)標(biāo)和熟練檢測員人工檢查進(jìn)行綜合確認(rèn)。

            備注:
            1.良率會(huì)直接影響漏過檢和UPH,以上均為典型值指標(biāo)。
            2.客戶個(gè)性化需求根據(jù)實(shí)際情況評(píng)估。
            3.特殊機(jī)種因其本身特性導(dǎo)致的成像異常(比如油墨反光或者發(fā)射異常),則可能無法檢測。

            4.設(shè)備根據(jù)灰度差異進(jìn)行缺陷檢測,當(dāng)不同缺陷呈現(xiàn)同類灰度形貌時(shí),將無法區(qū)分缺陷種類。

             

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